Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II
Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки; определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов; определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных несовершенств - дефектов строения кристаллической решетки ("физических вкладов") в интегральную ширину, (в величину "физического уширения" дифракционных отражений), расчёт на их основе угловой зависимости этих вкладов характеристик микроструктуры (микронапряжений и размеров областей когерентного рассеяния). Область применения: металлургия, геология, машиностроение, электронная, фармацевтическая и энергетическая промышленность, охрана окружающей среды, строительство, таможенный надзор, научные исследования и др.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Анализ структуры материалов с высокой точностью: Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II
Ключевые возможности и области применения
Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II — это передовые решения для детального исследования кристаллической структуры материалов. Приборы предназначены для точного измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей, что открывает широкие возможности для анализа.
Основные задачи, решаемые с помощью данного оборудования:
- Определение параметров кристаллической решетки: Точное вычисление угловых позиций дифракционных максимумов и определение размеров элементарной ячейки.
- Качественный и количественный фазовый анализ: Идентификация кристаллических фаз в образце с использованием обширных баз данных и калибровочных зависимостей.
- Анализ микроструктуры: Оценка интегральной ширины и полуширины дифракционных отражений для расчета вкладов структурных несовершенств, таких как микронапряжения и размеры областей когерентного рассеяния.
Широкий спектр применения охватывает такие отрасли, как металлургия, геология, машиностроение, электроника, фармацевтика, энергетика, строительство, экологический мониторинг, таможенный надзор и научные исследования.
Принцип работы и конструктивные особенности
Принцип действия основан на явлении дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемого образца. Рентгеновский пучок, исходящий из источника, отражается от кристаллографических плоскостей и фокусируется на детекторе. Регистрация дифракционной картины позволяет выявить Брэгговские отражения от различных плоскостей.
Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II представляют собой компактные настольные автоматизированные приборы с диапазоном регистрации углов 2θ от -3 до 145 градусов. Конструкция прибора модульная, что обеспечивает гибкость и удобство управления с персонального компьютера. Радиус гониометра составляет 150 мм.
Основные компоненты:
- Базовая платформа
- Источник рентгеновского излучения (рентгеновская трубка)
- Гониометр
- Детектор
- Блок электроники
- Управляющий компьютер с специализированным программным обеспечением, обеспечивающим защиту данных от несанкционированного доступа и искажения результатов.
Технические характеристики
Радиус гониометра: 150 мм
Полный диапазон измеряемых углов дифракции (2θ): от -3 до 145 градусов
Минимальное значение шага: 0.01 градус
Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.