Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные D2 CRYSO
Для рентгенографического определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов, а также качественного элементного анализа, для контроля качества производства в полупроводниковой промышленности, выращивания монокристаллов, в научно-исследовательских и учебных организациях.
Звоните прямо сейчас: 8 (800) 511-77-51
Современные решения для точного анализа: Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные D2 CRYSO
В мире высокотехнологичных исследований и промышленного контроля точность и надежность измерительного оборудования играют ключевую роль. Представляем вам Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные D2 CRYSO – передовые приборы, разработанные для решения самых сложных задач в области материаловедения и полупроводниковой промышленности.
Назначение и области применения
Эти инновационные дифрактометры предназначены для:
- Рентгенографического определения ориентации кристаллической решетки средних и крупных монокристаллов.
- Качественного элементного анализа материалов.
Благодаря своим уникальным возможностям, Дифрактометры рентгеновские энергодисперсионные D2 CRYSO находят широкое применение в:
- Полупроводниковой промышленности для строгого контроля качества производимой продукции.
- Технологиях выращивания монокристаллов, обеспечивая высокую чистоту и заданные параметры.
- Научно-исследовательских центрах для проведения фундаментальных и прикладных изысканий.
- Учебных организациях для подготовки высококвалифицированных специалистов.
Принцип работы и конструктивные особенности
Фундаментальный принцип действия приборов основан на явлении дифракции рентгеновских лучей, отражающихся от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемого образца. Соответствие закону Вульфа-Брегга обеспечивает высокую точность получаемых данных. Регистрация дифракционной картины осуществляется с помощью высокопроизводительного детектора.
Конструктивно дифрактометры выполнены в виде компактных настольных приборов, полностью управляемых с компьютера по заданной программе. В состав каждого прибора входят:
- Высокоэффективный микрофокусный источник рентгеновского излучения с генератором.
- Прецизионный коллиматор для формирования пучка.
- Передовой SDD-детектор (кремниевый дрейфовый детектор X-Flash площадью 30 мм² с энергетическим разрешением менее 160 эВ), обеспечивающий превосходное разрешение и скорость измерений без необходимости внешнего охлаждения.
- Электронный блок для сбора и обработки данных.
- Интуитивно понятная система управления на базе компьютера с пакетом специализированного программного обеспечения.
Источник рентгеновского излучения представлен металлокерамической рентгеновской трубкой с воздушным охлаждением (анод Rh, фокусное пятно 0,2x0,2 мм², максимальное напряжение 35 кВ, мощность 50 Вт), питаемой от генератора высокого напряжения (максимальное напряжение 50 кВ, мощность 50 Вт, ток 2 мА).
Методика анализа
Исследуемый объект подвергается облучению коллимированным рентгеновским лучом под определенным углом. В зависимости от угла отражения, который напрямую связан с ориентацией плоскости решетки, отраженный пучок будет обладать определенной энергией. Эта энергия регистрируется энергодисперсионным детектором. После поворота кристалла на 90 градусов вокруг нормали к его поверхности, происходит изменение угла отражения, и детектор фиксирует новую энергию. Углы ориентации рассчитываются на основе измеренных энергий, межплоскостного расстояния и угла падения.
Полученные сигналы от детектора обрабатываются, усиливаются и оцифровываются, после чего передаются на компьютер для дальнейшего анализа и сохранения.
Возможности измерения
С помощью данного оборудования возможно измерение кристаллов различных форм, включая таблетки, пластины и диски, при условии наличия хотя бы одной выраженной плоской поверхности.
Технические характеристики
- Диапазон определяемых элементов: от Si (14) до U (92).
- Энергетическое разрешение (приведенное к K-alpha линии Mn (5,9 КэВ)): не более 160 эВ.
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения основной ориентации: ±0,02 градуса.
- Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения ориентации плоскости: ±0,3 градуса.
- Максимальная скорость счета: 100 000 имп/с.
- Угловой диапазон перемещения держателя образца: 0-340 градусов.
- Угловой диапазон дифракции 2θ: 59-134 градусов.
- Угол падения первичного пучка: 30 градусов.
- Напряжение питания: 220 В (±10/-15) %.
- Время подготовки к работе: 1 час.
- Потребляемая мощность: 150 ВА.
- Средний срок службы: 8 лет.
- Габаритные размеры (ДхШхВ): 560x540x500(580) мм.
- Масса: 60 кг.
Условия эксплуатации
- Диапазон температуры окружающего воздуха: 17-29 °C.
- Диапазон относительной влажности окружающего воздуха: 20-80 % (без конденсации) при t=25 °C.
- Диапазон атмосферного давления: 84-106,7 кПа.
Комплектность поставки
Стандартный комплект поставки включает:
- Дифрактометр D2 CRYSO (генератор, рентгеновская трубка, коллиматор, SDD детектор, электронный блок, вращающийся столик-прободержатель, держатель детектора).
- Тестовый монокристалл кремния.
- Соединительные кабели.
- Компьютер (ноутбук) с монитором.
- Пакет программного обеспечения.
- Руководство по эксплуатации.
Дополнительные опции, такие как маркировочное устройство, держатели и кюветы для малых образцов, комплект запасных частей, поставляются по отдельному заказу.
Поверка и нормативные документы
Поверка приборов осуществляется в соответствии с утвержденной методикой. Основным средством поверки служат стандартные образцы монокристаллов. Межповерочный интервал составляет 1 год.
Приборы соответствуют требованиям ГОСТ Р 52931 и технической документации фирмы-изготовителя. Тип дифрактометров утвержден с соответствующими техническими и метрологическими характеристиками.
Заказать поверку или получить дополнительную информацию о дифрактометрах рентгеновских энергодисперсионных D2 CRYSO вы можете по телефону 8 (800) 511-77-51 или электронной почте info@labcsm.ru.
Счёт может быть выставлен как на юридическое лицо так и на физическое.
1. Проверьте комплектность СИ
Мы принимаем на поверку средства измерений в полной комплектации. Удостоверьтесь, что все провода и переходники на месте, иначе мы все равно попросим их привезти, что в итоге увеличит срок проведения поверки.
2. Оцените внешний вид устройства
Прежде чем сдавать СИ на поверку, обязательно очистите его от поверхностных загрязнений. Дополнительно убедитесь, что на приборе нет механических, электрических или тепловых повреждений.
3.Выберите удобный способ доставки СИ
Вы можете лично привезти прибор в нашу лабораторию, и спустя 7-10 дней забрать его обратно. Также возможна доставка транспортной компанией КСЕ. Эта услуга оплачивается дополнительно по тарифам транспортной компании.
