Дилатометры объемные дифференциальные ДОД-100КС/3, ДОД-100КС (далее - дилатометры) предназначены для измерений изменений объема при обусловленных переходом воды в лед аномальных объемных температурных деформациях образцов строительных материалов в процессе замораживания с целью ускоренного определении морозостойкости строительных материалов.
Дифрактометр рентгеновский переносной «Уран» предназначен для измерений углов дифракции, возникающих при воздействии сколимированного рентгеновского излучения на анализируемый объект, с целью определения уровня механических напряжений и деформаций в различных деталях и изделиях.
Интерферометры ^Phase моделей PLANO DOWN, PLANO/ SPHERO UP, ST+R, VERTICAL, UNIVERSAL (далее по тексту - интерферометры) предназначены для измерений двумерной карты высоты профиля поверхности (топограммы) отражающих объектов относительно начальной точки, выбираемой оператором, в микро- и нанодиапазоне.
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Область применения - контроль производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозо-бумажной, фармацевтической промышленности, а также анализ объектов окружающей среды.
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургические, машиностроительные, строительные; фармацевтика; криминалистика; научно-исследовательские и заводские лаборатории.
Интерферометр OWI 300 Plan (далее - интерферометр) предназначен для измерений отклонений от плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей.
Двухэлементный радиоинтерферометр на узлах колокации - «ДР УК» (далее - ДР УК) предназначен для измерений параметров сигналов от внегалактических радиоисточников, привязки полученных результатов измерений к земной системе координат ITRF и синхронизации со шкалой времени UTC(SU).
Разрешена установочная серия
Для прецизионного контроля угла среза монокристаллов путем косвенного измерения отклонения угла среза моно-кристалла относительно угла среза стандартного образца
Дифрактометры рентгеновские модели ДРОН-8Н и ДРОН-8Т (далее - дифрактометры) предназначены для измерений интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенофазового анализа материалов.
Дифрактометры рентгеновские Equinox предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте и относительной интенсивности дифракционных пиков (максимумов отражения) при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Дифрактометры рентгеновские моделей APD 2000 Pro, Explorer, Europe, AreX и StressX предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на объекте, содержащем кристаллические структуры при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа веществ и материалов в соответствии со стандартизованными и аттестованными методами (методиками) измерений.
Для измерения параметров EFEg и EFE отклонения от плоскостности полированных плоских поверхностей, для измерения параметров ECEg и ECE отклонения от сферичности полированных сферических поверхностей
Дифрактометры рентгеновские TD (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения методом рентгеновской дифракции.
Дифрактометры рентгеновские D8 ENDEAVOR (далее - дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллической решетке, параметров кристаллической решетки, а также для определения фазового состава кристаллических веществ методом рентгеновской дифракции в соответствии с аттестованными (стандартизованными) методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений).
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.